扫描电子显微镜
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仪器设备
- 仪器设备基本信息
| 仪器设备名称： | 扫描电子显微镜 | 英文名称： | |
| 所属单位： | 西安建筑科技大学 | 启用日期： | |
| 原值： | 88.7 | 产地国别： | 日本 |
| 仪器设备来源： | 购置 | 仪器设备类别： | |
| 仪器大类： | 分析仪器 | 仪器中类： | 电子光学仪器 |
| 仪器小类： | 扫描电镜 | ||
| 主要技术指标： | 1. 二次电子分辨率：≤ 4.0 nm@20 kV，≤ 15 nm@1kV； 2. 背散射电子分辨率：≤ 5.0nm@20kV（低真空）； 3.加速电压：0.3 kV~20kV连续可调，100V步进，并配束流优化功能； 4. 电子枪：预对中钨灯丝，在不更换韦氏帽条件下，用户可自行更换； 5. 放大倍数：6~300,000倍（以127mm x 95mm为准底片倍率）；16~800,000（数码放大，以509.8mmx286.7mm为准显示倍率），探针电流可以实时显示，≥1.2 μA； 6. 真空系统：≤ 10-3pa样品室； 7. 低真空范围 6 Pa -100 Pa连续调整； 8. 二次电子探测器：二次电子像，高灵敏度5分割背散射电子探测器； 9. 成像模式：同时得到二次电子像，背散射电子像，两种图像混合像；自动功能：自动灯丝饱和度调整，自动电子束对中及自动拍照功能；低球差物镜+聚光镜，聚光镜光阑安装长内衬管内，用户可自行更换聚光镜光阑； 10. 样品室配置五轴样品台：不少于三轴马达驱动，各轴工作有效行程要求：X：0~40mm，Y：0~50mm，Z：0~33mm，R：0~360°，T：-15°~90°样品大小：直径 ≥ 80 mm，高度 ≥ 40mm； | ||
| 主要功能： | 扫描电子显微镜（SEM），是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。它具有大景深、高分辨率、成像直观、立体感强、放大倍数范围宽，以及待测样品可在三维空间内旋转和倾斜等特点。此外，SEM的优势还包括可测样品种类丰富、几乎不损伤和污染原始样品，以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等。目前，扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究 | ||
| 主要学科领域： | 物理学,材料科学,土木建筑工程 | ||
- 仪器设备服务信息
| 服务领域： | 微观形貌表征、微区成分分析、材料结构表征、纳米材料表征、失效分析、表面分析 | 应用行业： | |
| 服务内容（分析测试项目等）： | 1. 常规微观形貌表征测试：包括二次电子成像（SE）、背散射电子成像（BSE），可实现高分辨率、大景深的样品表面 / 断面微观形貌观察；2.特殊样品测试：块体、片状、粉末、薄膜等不同形态样品的制样与测试；3.失效分析与结构表征：材料断口分析、涂层 / 薄膜结构分析、纳米材料尺寸与形貌统计； | 参考收费标准： | 300元/h |
| 服务时间： | 800 | ||
| 服务资料： | |||
| 服务预约网址： | |||
- 联系人信息
| 姓名： | 潘雍 | 电话： | 18811313809 |
| 通讯地址： | |||
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