原子力显微镜
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仪器设备
- 仪器设备基本信息
| 仪器设备名称： | 原子力显微镜 | 英文名称： | Atomic Force Microscope (AFM) |
| 所属单位： | 延安大学 | 启用日期： | |
| 原值： | 152.0 | 产地国别： | 德国 |
| 仪器设备来源： | 仪器设备类别： | ||
| 仪器大类： | 分析仪器 | 仪器中类： | 显微镜及图象分析仪器 |
| 仪器小类： | 扫描探针显微镜 | ||
| 主要技术指标： | 提供多种工作模式，包括接触模式 (Contact AFM)、轻敲模式 (Tapping AFM)、智能成像模式 (ScanAsyst)、定量纳米力学图谱 (PeakForce QNM)、磁力显微镜 (MFM)、静电力显微镜 (EFM) 等 | ||
| 主要功能： | 该仪器可提供三维表面形态影像，包括表面形貌、粗糙度、粒径大小、高度差和间距等 其他样品特性的成像，包括磁场、电容、摩擦力和相位等 | ||
| 主要学科领域： | 材料科学 | ||
- 仪器设备服务信息
| 服务领域： | 扫描范围：根据配置的扫描头不同，典型范围有：10µm × 10µm × 2.5µm；125µm × 125µm × 5µm；最大可达150µm × 150µm | 应用行业： | |
| 服务内容（分析测试项目等）： | 参考收费标准： | ||
| 服务时间： | |||
| 服务资料： | |||
| 服务预约网址： | |||
- 联系人信息
| 姓名： | 张元霞 | 电话： | 18729095629 |
| 通讯地址： | |||
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- 检验检测
- 实验服务
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