场发射透射式电子显微镜
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仪器设备
- 仪器设备基本信息
| 仪器设备名称： | 场发射透射式电子显微镜 | 英文名称： | Field Emission Transmission Electron Microscope |
| 所属单位： | 延安大学 | 启用日期： | |
| 原值： | 663.67 | 产地国别： | 日本 |
| 仪器设备来源： | 仪器设备类别： | ||
| 仪器大类： | 分析仪器 | 仪器中类： | 电子光学仪器 |
| 仪器小类： | 透射电镜 | ||
| 主要技术指标： | TEM点分辨率：≤ 0.23 nm @200kV • TEM线分辨率：≤ 0.10 nm @200kV • STEM分辨率：≤ 0.16 nm @200kV • 二次电子(SEI)分辨率：1.0 nm @200kV 2. 能谱(EDS)指标 • 能量分辨率：≤ 129 - 133 eV | ||
| 主要功能： | 高分辨晶格像(HRTEM)、明/暗场像、扫描透射像(STEM, 包括HAADF)；X射线能谱(EDS)点、线、面扫描分析 | ||
| 主要学科领域： | 材料科学 | ||
- 仪器设备服务信息
| 服务领域： | TEM模式：50 - 2,000,000倍；STEM模式：100 - 150,000,000倍。铍(4Be)至铀(92U) | 应用行业： | |
| 服务内容（分析测试项目等）： | 参考收费标准： | ||
| 服务时间： | |||
| 服务资料： | |||
| 服务预约网址： | |||
- 联系人信息
| 姓名： | 王传涛 | 电话： | 13259471696 |
| 通讯地址： | |||
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