仪器设备名称: | 集成电路高温动态老化系统 | 英文名称: | |
所属单位: | 西安西测测试技术股份有限公司 | 启用日期: | |
原值: | 26.0 | 产地国别: | 中国 |
仪器设备来源: | 购置 | 仪器设备类别: | |
仪器大类: | 特种检测仪器 | 仪器中类: | 其他 |
仪器小类: | |||
主要技术指标: | |||
主要功能: | |||
主要学科领域: | 信息科学与系统科学,工程与技术科学基础学科,材料科学,机械工程,动力与电气工程,电子、通信与自动控制技术,计算机科学技术,航空、航天科学技术,其他,科学研究,科技开发 |
服务领域: | 航空、航天、兵器、船舶、电子等领域 | 应用行业: | |
服务内容(分析测试项目等): | 适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验 | 参考收费标准: | 面议 |
服务时间: | / | ||
服务资料: | |||
服务预约网址: |
姓名: | 王雪利 | 电话: | 18091595205 |
通讯地址: |