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半导体分立器件测试系统

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仪器设备

  • 仪器设备基本信息
仪器设备名称: 半导体分立器件测试系统 英文名称: discrete semiconductor testing system
所属单位: 西安西测测试技术股份有限公司 启用日期:
原值: 26.6 产地国别: 49b5e75274834f3689f3990cc4d44a07
仪器设备来源: 仪器设备类别:
仪器大类: 工艺实验设备 仪器中类: 电子工艺实验设备
仪器小类: 半导体集成电路工艺实验设备
主要技术指标: 电源:~220V±5% 50Hz/10A 环境要求:20℃~27℃,湿度<80% VIS可设置为程控电压源或程控电流源作为电压源,可输出10~±20V(扩展±30V-40V),作为电流源可输出0~±10A(可扩展到±50A)
主要功能: 进行测试分析、器件选型、筛选检验等
主要学科领域:
  • 仪器设备服务信息
服务领域: 信息科学与系统科学 应用行业:
服务内容(分析测试项目等): 参考收费标准:
服务时间:
服务资料:
服务预约网址:
  • 联系人信息
姓名: 王雪利 电话: 18091595205
通讯地址:

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  • 实验服务

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