微光显微及激光诱导检测 EMMI
服务领域：
服务类型： 服务价格：
累计服务时长(分钟)：
累计服务次数(项/件)：
机构信息
机构名称：
主管部门：
单位性质：
联系地址：
联系人：
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检验检测
- 检验检测基本信息
| 检测样品名称： | 晶圆，芯片 | 检验检测名称： | 晶圆，芯片 |
| 服务类型： | 2 | 规格设置： | |
| 服务价格： | 定制服务 | 服务时长： | 300 |
| 服务次数： | 2 | 服务关键字： | |
| 检测周期： | |||
| 检测项目详情： | 用于侦测各种半导体芯片由于内部的微观缺陷（例如静电损坏、氧化层缺陷、金属化布线不合理、闩锁效应等）造成的光子溢出或者激光扫描时的阻值变化，从而定位异常点的位置。 | ||
- 联系人基本信息
| 姓名： | 蔡巧娟 | 电话： | 029-88251977-8004 |
| 通讯地址： | |||
仪器关联检验检测
- 检验检测参与仪器
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